Fluorolog-QM 代表了五十多年HORIBA 的熒光行業(yè)先進經驗以及制造高水平和功能多樣性的熒光光譜儀的頂峰。相較于其他科研級熒光光譜儀，Fluorolog-QM 以其全波長范圍內卓越的反射性能以及眾多的光源和檢測器選擇方案，全套壽命技術擴展了壽命測試波長范圍至5500nm，以及顯微鏡、X射線、低溫量子產率、偏振、遠程測試、變溫高溫等多種附件選擇方案等優(yōu)勢，為熒光測試提供無與倫比的高靈敏度和無限拓展性。

“儀器性能、通用性及操作便捷性的飛躍提升”

l  反射式光路設計，保證全波長范圍準確聚焦，無需調整光路，性能全優(yōu)化，這是高靈敏度的保證

l  具備優(yōu)勢的雜散光抑制比，像差校正長焦長單色儀（單級：350 mm，雙級：700 mm）

l  配備專業(yè)分析軟件，滿足所有穩(wěn)態(tài)和壽命測試需求，具有多種新型壽命擬合功能

l  擴展波長范圍，光路由氣氛保護，保證深紫外到近紅外區(qū)域的檢測

l  可同時連接4種光源和6個檢測器，且全部由電腦控制，實現多功能測試

l  即插即用，100 MHz脈沖光源，強化TCSPC壽命功能

l  近紅外穩(wěn)態(tài)和磷光壽命檢測波長至5500 nm

l  優(yōu)化的光學設計，氙燈光源擴展深紫外激發(fā)（低至180 nm），無臭氧

高靈敏度

Fluorolog-QM具有HORIBA PowerArcTM型氙燈光源配合橢球形反射鏡，實現70%超高聚光效率，并可將光束聚焦在單色儀狹縫處極小的點上，可更快速地激發(fā)樣品，減少光源功率過大帶來的高能耗與高熱量，維護成本也顯著降低。

Fluorolog-QM采用了像差校正的單色儀，該單色儀針對光通量與雜散光進行了優(yōu)化，也保證了Fluorolog-QM的高靈敏度。

全反射式聚焦光路，使得全光譜范圍（180~5500nm）準確聚焦樣品表面，保證了Fluorolog-QM的高靈敏度。

高分辨率

Fluorolog-QM系列熒光光譜儀使用350 mm焦長非對稱Czerny-Turner設計單色儀，帶有電動三光柵塔輪和電動轉折鏡，超過30種光柵可選。

通過電腦控制高精度微步電機和優(yōu)化后的光柵相結合，實現小至0.01 nm步進，與光學設計、長焦長、全反射光學和抑制光學像差相結合，可實現優(yōu)于0.1nm的高光譜分辨率。

雜散光抑制顯著

Fluorolog-QM系列熒光光譜儀，配備50 mm焦長非對稱式Czerny-Turner單色儀，采用光路像差校正，分別針對激發(fā)、發(fā)射側獨立優(yōu)化，確保高雜散光抑制能力，獲得熒光信號。單級單色儀具有1×10^-5的高雜散光抑制比，為了實現更高的靈敏度和光譜性能，Fluorolog-QM還可配置兩個350 mm焦長的單色儀，從而實現 700 mm焦距和1×10^-10雜散光抑制比，相較于其他熒光光譜儀，HORIBA 雙級中間狹縫光學設計（軟件控制），進一步優(yōu)化分辨率和雜散光抑制比。

滿足不同測試需求的多種硬件配置解決方案

Fluorolog-QM系列采用開放式的結構設計，可實現無限擴展，滿足未來任何可能的熒光應用需求。您可以通過選擇光源、光柵和檢測器以及大量可用的附件來優(yōu)化最初配置?？蛇x配置多種多樣!

可同時連接4種光源和6個檢測器，且全部由電腦控制，實現多功能測試。

配合TCSPC，MCS，SSTD和真實門控技術，保證了全光譜穩(wěn)瞬態(tài)（皮秒~秒及長余輝測試）、磷光光譜（延遲光譜）測試功能。

TCSPC壽命測量

Fluorolog-QM 系列輕松擴展TCSPC 壽命測試系統。利用先進的TCSPC 激發(fā)光源，電子計時單元和檢測器，Fluorolog-QM 可提供快速的測試，強大的通用性。

l  所有的穩(wěn)態(tài)/ 時間分辨控制，采集和分析都在FelixFL 軟件中進行。

l  超過40 年的TCSPC 研發(fā)和生產經驗

l 100 MHz操作系統，實現毫秒內完成采集

l  根據壽命測試時間范圍，軟件自動控制脈沖光源頻率

l  TCSPC 壽命測試范圍從5 ps到s

l  FelixFL軟件包實現穩(wěn)/瞬態(tài)采集

l  可測量TCSPC壽命、時間分辨各向異性和時間分辨發(fā)射光譜（TRES）

l  超過60個先進的脈沖LED和脈沖激光可供選擇

l  配合HORIBA倍頻器，擴展皮秒超連續(xù)激光器的多用途—研究蛋白時間分辨的強大工具

l  壽命衰減曲線分析包具有多種擬合模型，包括最大熵法(MEM)壽命分布程序

近紅外解決方案（適合熱點研究應用：稀土、量子點、AIE、近紅外二區(qū)探針等）

SSTD磷光檢測模式是所有Fluorolog-QM系統的標配功能，為近紅外樣品的近紅外發(fā)光研究提供解決方案。SSTD測試速度比傳統的MCS技術快8倍，并且不受檢測器類型限制（MCS技術只能配合PMT檢測器），從而擴展壽命檢測范圍至5500nm。

Fluorolog-QM可配備多個光源和檢測器，以覆蓋最寬波長范圍的穩(wěn)態(tài)光譜，熒光和磷光壽命測試需求?？蓞⒖家韵屡渲?/span>:

l  配置R928 PMT、NIR PMT（H0330或R5509-73市場主流型號）、InGaAs和InSb檢測器的雙發(fā)射單色儀覆蓋范圍從185 nm到5500 nm

l  用于穩(wěn)態(tài)光譜的連續(xù)氙燈

l  20 Hz Q調制開關/OPO激光器，用于210 nm到2200 nm的可調激發(fā)

l  180 nm到5500 nm的穩(wěn)態(tài)光譜

l  單脈沖實時采集技術(SSTD)用于測量從185 nm到5500 nm范圍內的磷光衰減

多種近紅外熒光測試解決方案

NIR PMT檢測器

NIR PMT檢測器具有超高靈敏度，同時適用于穩(wěn)態(tài)和TCSPC壽命測量，目前TCSPC電子設備是獲得皮秒到納秒熒光壽命的選擇選擇。

4款NIR PMT，滿足寬光譜覆蓋范圍

l  300~1400 nm，液氮制冷

l  300~1700 nm，液氮制冷

l  950~1400 nm，電制冷

l  950~1700 nm，電制冷

固態(tài)光電二極管近紅外檢測器

HORIBA可提供多種光電二極管，包含LN制冷，檢測范圍可擴展至5500 nm。

l  InGaAs: 800~1700 nm/1900/2100/2600 nm

l  InAs: 1000~3450 nm

l  InSb: 1500~5500 nm

NIR 壽命測量波長范圍可達5500 nm!

以上列出所有檢測器均可在單脈沖磷光(SSTD)模式中用于NIR發(fā)光壽命測量，壽命測量范圍可從1微秒至秒。SSTD技術具有超快檢測速度和超高的信噪比:

l  可調超高頻閃爍氙燈，用于熒光壽命測試

l  第三方脈沖Q調制激光器

l  相較于NIR PMT，固態(tài)近紅外檢測器提供更高性價比的磷光檢測方案。

強大的FelixFL軟件

Fluorolog-QM 熒光光譜儀集成FelixFL軟件，實現儀器硬件和附件控制。FelixFL作為新型軟件平臺，界面友好，操作簡單，可用于所有穩(wěn)態(tài)及時間相關光譜的采集和分析。通過USB接口連接，FelixFL即可擁有全套數據采集支持，實現控制所有系統配置和運行多種操作模式。

高級運算

FelixFL軟件提供多種定制化功能，包括量子產率、吸收、FRET，色坐標計算，以及單壁碳納米管結構參數等。這對擴展（例如積分球和吸收附件）數據分析非常方便，并且對于一些熒光應用也*，例如分子間相互作用（FRET）和材料表征。

l  單壁碳納米管結構計算

l  色坐標計算

l  吸收計算器

l  絕對量子產率

l  FRET熒光共振能量轉移

多種附件可選

Fluorolog-QM系列具有*的配件系統，研究人員可以根據實驗需求，不斷擴展儀器功能

l  絕對量子產率測量積分球附件

l  偏振附件

l  吸收/透射附件

l  微量比色皿：250 μl 微量樣品池；500μl 比色皿5×5 mm

l  2位和4位磁力攪拌控溫樣品支架

l  4位磁力攪拌樣品支架

l  液氮或液氦低溫恒溫器

l  固體樣品架，測試角度360°可調，滿足樣品前表面熒光測量，適用于薄膜，粉末，顆粒，紙張，纖維和顯微載玻片等樣品測量

l  自動滴定儀雙注射，雙閥

l  Hi-tech SFA-20超快停留動力學附件

l  密封防刮標準水樣品，用于水拉曼S/N驗證

l  發(fā)射校正因子附件

l  激發(fā)校正因子附件

l  上轉換激光附件

l  20 μl HPLC 流動樣品池

l  X射線源

l  顯微鏡

l  高溫附件

l  變溫量子產率